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Measuring Downside Risk Using High-Frequency Data: Realized Downside Risk Measu
金融坦然
1190 2
2014-07-09
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【作者(必填)】

【文题(必填)】Measuring Downside Risk Using High-Frequency Data: Realized Downside Risk Measure作者: Bi, Tao; Zhang, Bo; Wu, Huishan
COMMUNICATIONS IN STATISTICS-SIMULATION AND COMPUTATION  卷: 42   期: 4   页: 741-754   出版年: APR 1 2013

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hello_xn
2014-7-9 10:13:12
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line_us
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