X射线探测器响应机制及应用建模技术
X射线的探测和应用在物质成分分析、结构分析等研究中发挥着越来越重要的作用，其中能量色散X射线荧光（Energy Dispersive X-ray Fluorescence, EDXRF）技术是X射线探测领域的一个重要分支，如何进一步提高分析准确度和自动化程度是EDXRF技术发展中所面临的主要问题，其中，解谱技术和含量计算方法研究是两个关键突破点。首先，准确的解谱技术是保证EDXRF分析计算得到准确含量的重要前提。
通过建立探测器响应函数（Detector Response Funtion, DRF）实现能谱分析，可有效提高谱数据处理的自动化程度和计算精度。DRF可以对测量X荧光能谱进行数学特征和物理特征分析，其函数形式主要与射线类型、射线能量、探测器类型有关，因此，建立一种通用性较强的优化DRF模型显得尤为重要。
其次，定量分析技术研究是关系EDXRF技术水平的核心内容。传统的EDXRF定量分析方法，要么在很大程度上依赖于标样的准确度和标样与待测样品的相似性，要么需进行非常复杂的参数计算和大量数学运算，影响了EDXRF的分析速度。
因此在研究EDXR ...