PandaX实验放射性本底控制与分析
暗物质的存在与否是当今基础科学的重大问题之一。位于四川锦屏山的PandaX实验,利用二相型氙时间投影室探测技术,以期对暗物质候选者“大质量弱相互作用粒子”（WIMP,weakly interacting massive particle）进行高灵敏探测。
WIMP和物质相互作用的超低截面,使得对探测环境中放射性本底的控制,成为影响实验探测灵敏度的首要因素。本论文将详述为PandaX实验低本底控制而设计建造的两套材料放射性检测站。
检测站采用高纯锗探测器特征伽马探测技术,对PandaX-I/II暗物质实验探测器部件材料进行放射性测量及材料筛选。在中国锦屏极深地下实验室环境、主动屏蔽体和祛氡气系统保障的前提下,PandaX-I/II液氙暗物质探测器主要本底来源,被基本限定在探测器部件材料和液氙介质自身放射性杂质两类物质之内。
对于探测器部件放射性本底,锦屏材料检测站利用高纯锗半导体探测器放射性探测甄别技术,采用目前全球低本底辐射探测领域有效质量最大的3.69公斤高纯锗半导体探测器获得175%的相对探测效率,并结合锦屏实验室和屏蔽系统的辐射屏蔽能力提升待 ...