本设备有效期确定为
10年。5.1.1
有效期确定的方案
本设备有效期的确定采用如下方法，首先根据设备结构组成确定与
X射线和成像相关的关键部件，这些关键部件的有效期和寿命数据主要根据生产厂家提供的数据或加速寿命试验确定。在本设备中使用的电子元件使用加速寿命试验的方法确定有效期和寿命。在本设备中使用的机械件和结构件采用数据分析或加速寿命试验确定有效期和寿命。
5.1.3
加速寿命试验的原理
寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，采用寿命试验的方法去评估设备的各种性能。但是这种方法对寿命较长的设备来说实际较难进行，因为需要花费很长的时间。因此在寿命试验的基础上加大应力,从而缩短试验时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。
加速寿命试验是用加大试验应力(例如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发设备在短时间内产生失效。然后运用加速寿命模型评估设备在正常工作应力下的可靠性特征。加速寿命试验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因子
TAF的含义是指设备在正常工作应力下的寿命与在加速环境下的寿命之比,其意义就是在加速寿命试验环境中
1小时试验相当于设备正常工作环境中寿命 ...