闪烁探测器结构改进及性能测试的研究
目前在核辐射测量中常用HPGe探测器测量活化样品的能谱信息,因为其具有高能量分辨率、响应时间快、但其抗辐照能力差当中子注入通量较大时,锗晶体原子会发生位移,持续辐照会使大量锗晶格错位,HPGe晶体本征区结构遭到破坏、探测器电荷收集率降低致使HPGe探测的能量分分辨率变差;同时HPGe探测器价格贵、工作环境需液氮冷却,给维护带来不便限制其在工业生产实践中被广泛地应用。与HPGe探测器相比,闪烁探测器种类比较多,具较好的能量分辨率、探测效率、更广的探测区间、价格较低且具有很好的抗辐照性能是当前应用最广泛的核辐射探测器,但往往由于分辨率相对较低不能分辨相近能量的γ射线给数据分析带来较大难度。
针对上述问题本文立足于闪烁探测器原理﹑结构及成熟的核电子学技术基础,结合电子技术以及材料科学的发展,通过理论计算﹑模拟论证及实验测试等方法对闪烁探测器的形体规格及荧光出射方式、反射层材料及厚度、光学耦合材料及增透膜、闪烁探测系统外接电压源稳定性对探测器性能的影响做出探究。通过这一新型高光子输出闪烁探测器展开研究不同条件对探测器性能的影响,最后得出以下结论:（1）通过新 ...