Ultrametric Fitting by Gradient Descent

          Giovanni Chierchia                Benjamin Perret
     Université Paris-Est, LIGM (UMR 8049)      Université Paris-Est, LIGM (UMR 8049)
      CNRS, ENPC, ESIEE Paris, UPEM          CNRS, ENPC, ESIEE Paris, UPEM
      F-93162, Noisy-le-Grand, France         F-93162, Noisy-le-Grand, France
      giovanni.chierchia@esiee.fr            benjamin.perret@esiee.fr

                         Abstract
       We study the problem of fitting an ultrametric ...