全部版块 我的主页
论坛 计量经济学与统计论坛 五区 计量经济学与统计软件
2527 2
2014-01-07
请教各位高手,关于面板数据的单位根检验方法的选择。教材里讲到,面板单位根检验分为两大类:第一类检验方法假设截面不相关(又细分为同质与异质面板假设);第二类假设截面相关(通常为异质面板假设)。我的问题是:
1.对面板数据做单位根检验之前,首先要判断是否存在截面相关,这一步骤在Eviews7.0中如何操作?2.Eviews7.0目前只提供截面不相关假设下的几种检验方法(LLC、Breitung、IPS、Fisher-ADF、Fisher-PP);若实际数据存在截面相关,Eviews7.0能否实现,是否需要编程解决?
3.我看了一些文献,包括近年发表的CSSCI期刊文章,发现多数作者做面板数据单位根检验时,只采用“截面不相关”假设的几种方法。如果所分析的数据存在截面相关,这样做是否影响单位根检验结果的准确性?


十分感谢各位高手相助!





二维码

扫码加我 拉你入群

请注明:姓名-公司-职位

以便审核进群资格,未注明则拒绝

全部回复
2015-1-15 14:58:45
Chang、Bai、Ng以及Pesaran提出了界面弱相关的假设,并且提出的PANIC方法,这种方法允许截面弱相关和共同因子结构的同时存在,是目前适用性最广泛的方法。但是貌似没有现成检验方法,都是需要编程的
二维码

扫码加我 拉你入群

请注明:姓名-公司-职位

以便审核进群资格,未注明则拒绝

2015-3-19 20:14:11
火山会打嗝 发表于 2015-1-15 14:58
Chang、Bai、Ng以及Pesaran提出了界面弱相关的假设,并且提出的PANIC方法,这种方法允许截面弱相关和共同因 ...
你说的都没听过啊,好高深!
二维码

扫码加我 拉你入群

请注明:姓名-公司-职位

以便审核进群资格,未注明则拒绝

相关推荐
栏目导航
热门文章
推荐文章

说点什么

分享

扫码加好友,拉您进群
各岗位、行业、专业交流群