摘要：在涂层失效过程的研究中,对长期浸泡于电解质溶液中试片的电化学阻抗谱(EIS)进行分析,提出了利用Bode图幅频特性曲线斜率做为评价参数的方法.以幅频特性斜率曲线作为Kohonen神经网络的输入,将涂层失效过程自适应的分为5个连续子过程,并将学习后的网络用于涂层失效过程阻抗谱分析.结果表明不同类型涂层失效过程不同,可用建立的神经网络对涂层性能进行评价.http://www.cqvip.com//QK/94935X/200502/15499468.html

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