【作者(必填)】
Aftab A. Khan; James R. Moyne; Dawn M. Tilbury
【文题(必填)】
An Approach for Factory-Wide Control Utilizing Virtual Metrology

【年份(必填)】
2007
【全文链接或数据库名称(选填)】https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/4369341/authors#authors