Drop/impact tests and analysis of typical portable electronic devices - 经管之家

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Drop/impact tests and analysis of typical portable electronic devices

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【作者(必填)】C. Y. Zhou

【文题(必填)】Drop/impact tests and analysis of typical portable electronic devices
【年份(必填)】2008

【全文链接或数据库名称(选填)】https://www.researchgate.net/pub ... _electronic_devices

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bkm006 查看完整内容

zhou2008.Dropimpact tests and analysis of typical portable electronic devices.pdf: https://545c.com/file/9471382-449811230

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2020-6-20 22:43:50

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