应力传感的荧光及光纤方法研究
应力对于材料的机械性质、光学属性等都有着不可忽视的影响，对应力、应变的测量也越来越受到广泛的关注。根据实际应用领域以及环境的不同，人们采用各种不同的传感系统、测量方法、数据分析计算方法来对应力或者应变进行测试。
本文比较了几种应力测试方法，并研究了荧光压谱测量应力的方法和基于折射率变化测量应力的方法，前者通常用于一些涂层或者镀层等浅层应力的测量，后者可用于一些体材料的内应力测量。（1）将电子云膨胀效应作为荧光压谱现象的基础效应，理论上固体荧光材料中稀土离子能级重心相对于自由离子能级的移动量反比于晶格常数。
受到应力作用的材料弹性形变时其晶格常数的变化量正比于应力，因此，可以通过测量稀土离子能级重心位置的偏移量来获得发光材料受到应力的大小。本文设计了荧光压谱测试应力的系统，分别选取YAG:Ce<sup>3+</sup>作为5d-4f能级跃迁和Y<sub>2</sub>O<sub>3</sub>:Er,Yb作为4f-4f能级跃迁的两种稀土材料作为试验样品，其中，YAG:Ce<sup>3+</sup>光谱测试结果拟合得到的能级重心E0<sup>应</sup>力σ ...