Econometric Models for Count Data with an Application to the Patents-R&D - 经管之家

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Econometric Models for Count Data with an Application to the Patents-R&D

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收藏 2015-09-03

悬赏 5 个论坛币已解决

【作者(必填)】Jerry Hausman, Bronwyn H. Hall and Zvi Griliches

【文题(必填)】Econometric Models for Count Data with an Application to the Patents-R & D Relationship

【年份(必填)】1984

【全文链接或数据库名称(选填)】http://www.jstor.org/stable/1911191?origin=crossref

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