从第一代的 Panel unit root (PUR) test,如 Levin-Lin-Chu test 与 Im-Pesaran-Shin test (改善一般时间序列 unit root test power 不够的问题 ),之后的 PUR 学者也进一步考虑面板个体之的相关性(就是 cross-sectional dependence),也有人允许结构性转变 (structural change);最近这几年更有学者将两种特质结合,提出 PUR test with cross-sectional dependence and structural break -- 例如 Lee, C., Wu, J.-L., and Yang, L. (2016). "A simple panel unit-root test with smooth breaks in the presence of a multifactor error structure." Oxford Bulletin of Economics and Statistics, 78(3), 365-393. 该类之 PUR test 大部分都有 Matlab/Gauss 程序估计!